“通電、觀察電流、輸出數(shù)據(jù)、各項性能指標(biāo)測試……一切正常！”日前，在中國航天科工三院33所八室ASIC試驗室誕生了第一顆33所自主設(shè)計的ASIC芯片F(xiàn)DC3301。FDC3301的成功研制，標(biāo)志著33所電子技術(shù)領(lǐng)域從板級拓展到了芯片級，人才隊伍正由芯片的使用者向芯片的設(shè)計者轉(zhuǎn)變。

　　由于采用FPGA的傳統(tǒng)測頻方法無法滿足大動態(tài)情況下對振梁加速度計輸出頻率信號高速采樣的要求，加之對國外芯片依賴較大，為改變現(xiàn)狀，33所積極創(chuàng)新，自主開展了ASIC芯片的設(shè)計。該芯片主要用于完成振梁加速度計頻率信號的同步連續(xù)測量，可直接輸出被測信號浮點值頻率。其各項性能指標(biāo)均達(dá)到或超過了芯片規(guī)格書的要求，不僅實現(xiàn)了原有電路的芯片化集成，更重要的是其性能指標(biāo)得到了顯著的改善，量化噪聲降低了一個數(shù)量級，顯著提高了系統(tǒng)的動態(tài)特性。

　　ASIC芯片可應(yīng)于航空航天傳感器頻率測量，工業(yè)領(lǐng)域測試和測量系統(tǒng)等。芯片的研制成功，為33所在電子電路專業(yè)拓展新的發(fā)展空間奠定了堅實基礎(chǔ)。

　　轉(zhuǎn)載請注明來源：賽斯維傳感器網(wǎng)（tcmtest.cn）